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高低溫沖擊試驗(yàn)箱滿足的標(biāo)準(zhǔn)說明

更新時(shí)間:2015-10-21      點(diǎn)擊次數(shù):1720
  
  
  高低溫沖擊試驗(yàn)箱具有很強(qiáng)的適應(yīng)性,設(shè)有多種機(jī)型來適應(yīng)不同的試驗(yàn)要求,可劃分為:空氣間溫度沖擊試驗(yàn)箱、兩箱到三箱以及兩種到三種溫度的沖擊箱(高溫、常溫和低溫)。箱體的大小從27立升到1000立升不等。PLC控制系統(tǒng)和顯示器的操作界面可事先設(shè)置好循環(huán)試驗(yàn)的參數(shù),使其自動(dòng)完成試驗(yàn)全過程。
  
  高低溫沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)待測(cè)試樣的特殊性,分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊,GP/3TS系列既可作冷熱沖擊試驗(yàn),也可以做單獨(dú)高溫或單獨(dú)低溫使用。廣泛使用于航空航天、軍用單位、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等,同時(shí)可通過此試驗(yàn),進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
  
  本設(shè)備滿足:
  
  ØGB/T2423.22-87Na
  
  ØGJB_150.1-86_軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法_總則
  
  ØGBT23682-2009制冷系統(tǒng)和熱泵軟管件、隔震管和膨脹接頭要求、設(shè)計(jì)與安裝
  
  ØGB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)》試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法;
  
  ØGB/T2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)》試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法;
  
  ØGB2423.2-2006(IEC68-2-2)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn):高溫試驗(yàn)方法
  
  ØGJB150.3(ML-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法
  
  ØGJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法
  
  ØGJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》
  
  ØGJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn):恒定濕熱試驗(yàn)》
  
  ØGJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn):交變濕熱試驗(yàn)》
  
  ØGJB367.2-1987《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》
  
  ØGB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》
  
  ØGB/T10592-2008《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
  
  ØGB/T10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
  
  ØGB/T11158-2008《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
  
  
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