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二箱式冷熱沖擊試驗機

簡要描述:二箱式冷熱沖擊試驗機是一種用于模擬產(chǎn)品在不同溫度條件下的性能測試的設(shè)備。它通常由兩個相鄰的試驗箱組成,一個用于低溫環(huán)境,另一個用于高溫環(huán)境。這些試驗箱之間有一個可移動的樣品槽,用于將待測試物體放置其中。

  • 產(chǎn)品型號2AP-CJ-80A
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2024-08-04
  • 訪  問  量3887

詳細(xì)介紹

  二箱式冷熱沖擊試驗機是一種用于模擬材料、零部件或產(chǎn)品在不同溫度變化環(huán)境下的性能測試設(shè)備。它包含兩個相互獨立的測試箱,一個用于低溫冷卻,另一個用于高溫加熱,通過將樣品迅速轉(zhuǎn)移到不同溫度環(huán)境中來模擬溫度沖擊。
 
  該試驗機具有以下主要特點和功能:
 
  1、兩個測試箱:一個用于低溫環(huán)境,一個用于高溫環(huán)境,兩者相互隔離。
 
  2、控制系統(tǒng):設(shè)備配備了*的控制系統(tǒng),可精確控制溫度和溫度變化速率。
 
  3、溫度范圍:可以根據(jù)需要選擇不同的溫度范圍,通??梢愿采w從極低溫到高溫的范圍。
 
  4、沖擊方式:可根據(jù)需求選擇氣體沖擊、液體沖擊或機械沖擊等方式進(jìn)行溫度轉(zhuǎn)換。
 
  5、安全性能:設(shè)備通常具有安全保護(hù)功能,如過溫保護(hù)、壓力保護(hù)和電路故障保護(hù)等。
 
  6、數(shù)據(jù)記錄和分析:一些二箱式冷熱沖擊試驗機配備了數(shù)據(jù)記錄和分析系統(tǒng),可對測試過程進(jìn)行監(jiān)控和記錄,并生成相應(yīng)的測試報告。
 
  目前愛佩公司生產(chǎn)的二箱式冷熱沖擊試驗機主要銷往于這些工業(yè):光電、LED、顯示器、顯示屏、軍工,航天,航空,手機連接器,PCB連接器,F(xiàn)PC連接器,電感器、電腦連接器,電源連接器,信號連接器,濾波器、變壓器,電子,電器,電子產(chǎn)品,電子元器件,數(shù)碼產(chǎn)品,手機,電腦,太陽能組件,光伏組件,光纖,LCD,PCB,F(xiàn)PC,微電子,電機,汽車燈產(chǎn)品及零部件等大型產(chǎn)品或者大型零部件。這些大型產(chǎn)品使用此試驗箱的好算就是不用切割,不用拆封及分體分量試驗。
 
  二箱式冷熱沖擊試驗機基本參數(shù):
 
  溫度范圍:(A=-40℃,B= -55℃,C=-65℃℃)~+100℃(+150℃)
 
  熱銷的型號有2AP-CJ-80A    2AP-CJ-150A系列:
 
  試驗架尺寸(W×H×D):200mm×130mm×200mm  50mm×280mm×350mm
 
  低溫槽尺寸(W×H×D):400mm×500mm×400mm  55mm×650mm×550mm
 
  高溫槽尺寸(W×H×D)mm:400mm×400mm×400mm  550mm×550mm×550mm
 
  3AP-CJ-50A  3AP-CJ-150A  AP-CJ-225A系列:
 
  內(nèi)箱尺寸(W×H×D)mm:350×350×400    500×400×400  600×500×500   750×600×500
 
  外箱尺寸(W×H×D)mm:1450×1950×1600  1550×2050×1600   1650×2150×1800  1850×2200×1800
 
  樣品架承重量:2.5kg或者5.0kg(也可非標(biāo)定制)
 
  低溫槽溫度上升時間:40min   80min
 
  低溫槽溫度下降時間:70min    80min   90min
 
  高溫槽溫度:60℃~200℃
 
  低溫槽溫度:-55℃~-10℃
 
  試物移動時間:10秒鐘內(nèi)
 
  控制方式:微電腦控制+PID+SSR
 
  冷媒:杜邦環(huán)保冷媒HFC
 
  安全裝置:超溫保護(hù),壓縮機過負(fù)載保護(hù)裝置,控制系統(tǒng)過載保護(hù),高低壓保護(hù)開關(guān)
 
  內(nèi)箱材質(zhì):SUS304優(yōu)質(zhì)不銹鋼,此不銹鋼具有良好的耐蝕性、耐熱性,低溫強度和機械特性;沖壓、彎曲等熱加工性好,無熱處理硬化現(xiàn)象(無磁性,使用溫度-196℃~800℃)
 
  外箱材質(zhì):優(yōu)勢鋼板鍍鋅防銹處理,外附高級樹脂烤漆涂裝,不易脫落,不易變色,經(jīng)久耐用,高檔美觀。
 
  滿足以下標(biāo)準(zhǔn):
 
  GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫
 
  GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
 
  GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
 
  GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
 
  GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件
 
  GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
 
  GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
 
  GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高低溫試驗導(dǎo)則
 
  GB/T2423.22-1989溫度變化試驗;
 
  GB/T 2423.22-2002溫度變化
 
  GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則
 
  GJB150.3A-2009 軍裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分高溫試驗
 
  GJB 150.4A-2009 軍裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗
 
  GJB 150.5A-2009 軍裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗
 
  GJB367.2-1987 軍通信設(shè)備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗方法
 
  GJB360.7-87溫度沖擊試驗;
 
  GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗
 
  IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化
 
  EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估
 
  QC/T 17-1992 汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則 汽車行業(yè)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)等等包括其它產(chǎn)品行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
 
  SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式;
 
  SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式
 
 

 

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